方块电阻与厚度有关。

方块电阻又称膜电阻，是用于间接表征薄膜膜层、玻璃镀膜膜层等样品上的真空镀膜的热红外性能的测量值，该数值大小可直接换算为热红外辐射率。

方块电阻有一个特性，即任意大小的正方形测量值都是一样的，不管边长是1米还是0.1米，它们的方阻都是一样，这样方阻仅与导电膜的厚度等因素有关。

扩展资料：方块电阻测试方法用这种方法毫欧计可以测试到几百毫欧，几十毫欧，甚至更小的方阻值。

2、由于采用四端测试，铜棒和导电膜之间的接触电阻，铜棒到仪器的引线电阻，即使比被测电阻大也不会影响测试精度。

3、测试精度高。

由于毫欧计等仪器的精度很高，方阻的测试精度主要由膜宽W和导电棒BC之间的距离L的机械精度决定，由于尺寸比较大，这个机械精度可以做得比较高。

在实际操作时，为了提高测试精度和为了测试长条状材料，W和L不一定相等，可以使L比W大很多，此时方阻Rs=Rx*W/L，Rx为毫欧计读数。

探头由四根探针阻成，要求四根探针头部的距离相等。

四根探针由四根引联接到方阻测试仪上，当探头压在导电薄膜材料上面时，方阻计就能立即显示出材料的方阻值。

具体原理是外端的两根探针产生电流场，内端上两根探针测试电流场在这两个探点上形成的电势。

因为方阻越大，产生的电势也越大，因此就可以测出材料的方阻值。

需要提出的是虽然都是四端测试，但原理上与图二所示用铜棒测方阻的方法不同。

因电流场中仅少部分电流在BC点上产生电压（电势）。

所示灵敏度要低得多，比值为1：4.53。

参考资料来源：百度百科-方块电阻。